陳用佛
紐約市立大學約翰傑刑事司法學院(John Jay College of Criminal Justice City University of New York)鑑識科學研究所碩士。
紐約市立大學研究生學院(Graduate Center, City University of New York)化學研究所奈米科技暨材料科組博士。
曾於紐約市警察局頭髮與纖維組實習。
目前任職於中央警察大學。
因受教於國際知名微物跡證專家Thomas Kubic,因此對於微物跡證分析有狂熱。此外研究興趣為應用鑑識顯微鏡於文書鑑定以及奈米鑑定。
鄒濬智
國立台灣師範大學國文系博士。學術專長為古文字學、民間信仰禮俗與國學應用。著有《寫給年輕人的簡明國學常識》。
沈文聖
警察大學鑑識科研究生